SANKO三高 双型膜厚计 薄膜测厚仪SWT-NEO-FN，是一款探头与主体一体化的小型膜厚计。简单的按钮操作可进行调零和标准调整。带背光的大型液晶显示屏易于读取。

SANKO三高 电磁式模拟膜厚计Pro-S/Pro-W，可以直观读取测量厚度。 作为现场使用的高性能涂层测厚仪，它广泛应用于政府办公室、测试中心和公司等场所。

SANKO三高 电磁式膜厚计 SP-3300D，是一款高性能、高精度数字薄膜测厚仪，适用于丝网加工。

SANKO三高 膜厚计 脉冲反射方式SL-120C，可以用一台设备测量从薄膜到厚膜的所有物体，宽广的测量范围，特别厚的薄膜可测量达 15 毫米。

SANKO三高 电磁式模拟膜厚计SL-5P，可用于测量难以触及的内表面、下表面和底表面的涂层，例如细管和弯头中的涂层。

SANKO三高 电磁式模拟膜厚计TL-50，磁极安装在细长可伸缩手柄的末端，因此可以测量细管（φ32mm以上）、设备背面、高处和远处的涂层。

SANKO三高 针孔探测器 TRC-250A/TRC-250B，低频高压脉冲放电式，检测电压5至25kV（峰值）报警方式灯、蜂鸣器目标涂层厚度1毫米以上工作时间约 6 小时（最大输出电压）工作温度0～40℃（无凝结）。

SANKO三高 针孔探测器 膜厚计TO-5DP，低功耗直流高压检测器，用于几百微米或更薄涂层（如含氟聚合物）的针孔检测。

SANKO三高 直流式针孔探测器TO-250D，低功耗直流高压检测器，用于几百微米或更薄涂层（如含氟聚合物）的针孔检测。

SANKO三高 膜厚计 薄膜测厚仪UDM-550V，用于测量铁、铜、铸铁、铝和其他金属、硬塑料、玻璃和瓷器的厚度，提供各种类型的探头。